电子碰撞谱学实验室

　　扫描探针电子能谱学（SPEES）是将扫描探针技术与电子能谱技术相结合而发展起来的一种新的谱学技术。其基本原理如图1所示：通过在扫描探针（如STM针尖）上加高压使之场发射电子与样品表面碰撞，然后测量从样品表面发射的背散射电子（能损电子）、俄歇电子及二次电子的能谱，最终目标为实现固体表面空间分辨为纳米尺度的谱成像。

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